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TH2826型高頻LCR數(shù)字電橋
TH2826 系列元件測試儀是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz
的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q
電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。
TH2826型高頻LCR數(shù)字電橋是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試強有力的工具。其超
高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點檢機，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等 等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標準需求。TH2826
系列產(chǎn)品 以其**的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和**標準如 IEC 和 MIL 標準的各種測試。
TH2826型高頻LCR數(shù)字電橋應(yīng)用
■ 無源元件
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析
■ 半導體元件
LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件
印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質(zhì)材料
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
■ 磁性材料
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料
半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性
■ 液晶單元
介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
TH2826型高頻LCR數(shù)字電橋
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測試參數(shù) |
C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR |
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測試頻率 |
TH2826 |
20 Hz～5MHz,10mHz步進 |
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測試信號電平 |
f≤1MHz |
10mV～5V,±（10%+10mV） |
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f>1MHz |
10mV～1V,±（20%+10mV) |
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輸出阻抗 |
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω |
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基本準確度 |
0.1% |
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顯示范圍
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L |
0.0001 uH ～ 9.9999kH |
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C |
0.0001 pF ～ 9.9999F |
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R,X,Z,DCR |
0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ |
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Y, B, G |
0.0001 nS ～ 99.999 S |
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D |
0.0001 ～ 9.9999 |
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Q |
0.0001 ～ 99999 |
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θ |
-179.99°～ 179.99° |
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測量速度 |
快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s |
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校準功能 |
開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準 |
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等效方式 |
串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 |
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量程方式 |
自動, 保持 |
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顯示方式 |
直讀, Δ, Δ% |
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觸發(fā)方式 |
內(nèi)部, 手動, 外部, 總線 |
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內(nèi)部直流偏 |
電壓模式 |
-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進 |
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置源 |
電流模式（內(nèi)阻為50Ω） |
-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進 |
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比較器功能 |
10檔分選及計數(shù)功能 |
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顯示器 |
320×240點陣圖形LCD顯示 |
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存儲器 |
可保存20組儀器設(shè)定值 |
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接口 |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) |
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USB HOST(FAT16 and FAT32 support) |
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LAN(LXI class C support) |
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RS232C |
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HANDLER |
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GPIB（選件） |
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TH2826型高頻LCR數(shù)字電橋
標配配件名稱 型號
夾具 TH26048
短路片 TH26010
帶盒四端絕緣帶鎖Kelvin測試線 TH26011BS
選配配件名稱 型號
資料下載
資料名稱 下載鏈接
規(guī)格書 下載
TH2826上位機軟件 下載
TH2826_64位USBCDC驅(qū)動 下載
TH2826系列說明書 下載
