Model DUORES 手持式面電阻測(cè)試儀

Model DUORES 手持式面電阻測(cè)試儀可以容易更換使用非接觸式和接觸式兩種測(cè)試探頭

Model DUORES 手持式面電阻測(cè)試儀<NAPSON 原創(chuàng)的技術(shù)>
可替換手持式探頭支持兩種測(cè)試方式
（1）非接觸式探頭（渦電流測(cè)試法）
（2）接觸式探頭（四探針測(cè)試法）
探頭觸碰到樣品時(shí)就會(huì)自動(dòng)開始測(cè)量
可以長(zhǎng)達(dá)24小時(shí)的測(cè)量時(shí)間
*多顯示100組測(cè)量數(shù)據(jù)
*多儲(chǔ)存50,000組測(cè)試數(shù)據(jù)
可通過USB-MINI將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)出
測(cè)量數(shù)據(jù)顯示4位數(shù)的浮動(dòng)小數(shù)點(diǎn)
測(cè)試結(jié)果單位：Ω/sq，s/sq，n/m

任意樣品只要在測(cè)試范圍內(nèi)都可以進(jìn)行測(cè)試。（如薄膜、玻璃、紙張等）
導(dǎo)電薄膜（ITO, TCO等）
LOW-E玻璃 
碳納米管，石墨烯材料
金屬材質(zhì)（納米銀線，金屬網(wǎng)格，金屬薄膜）
其他材料
* 歡迎索取更詳細(xì)產(chǎn)品資料，歡迎測(cè)樣

樣品尺寸：
任意尺寸形狀樣品都可以測(cè)試（測(cè)試面積必須大于探頭面積）

Model DUORES 手持式面電阻測(cè)試儀測(cè)試范圍和精度

探頭類型 
非接觸式探頭（渦電流測(cè)試法） 0.5 ~ 200 ohm/sq
接觸式探頭（四探針測(cè)試法） 0.001 ~ 4000 ohm/sq ≦±0.5%
*精度
0.5~100ohm/sq： ≦3.0%*重復(fù)性
100~200ohm/sq：≦5.0%*重復(fù)性 
*重復(fù)性 : NAPSON標(biāo)準(zhǔn)片的測(cè)量重復(fù)性 (CV = STDEVP/AVG×100%)（出貨前即會(huì)校準(zhǔn)）
*精度   : NAPSON標(biāo)準(zhǔn)電阻的測(cè)試精度（出貨前即會(huì)校準(zhǔn)）

<尺寸>主機(jī)：W80(100) ×D210 ×H36 mm, 約350g，{*并不含電池重量在其中}
非接觸式探頭：W70(φ50) ×D20(φ50) ×H70 mm, 約170g
接觸式探頭：W40 ×D15 x H50 mm, 約85g
<電源>AC100~240V, 50/60Hz, DC9V 1A