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日本日置 IM3523 LCR測試儀
日本日置 IM3523 LCR測試儀應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測試領(lǐng)域的理想選擇
基本精度±0.05%,測量范圍廣泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。
內(nèi)置比較器和BIN功能
2毫秒的快速測試時(shí)間
日本日置 IM3523 LCR測試儀不標(biāo)配測量探頭和測試夾具。請結(jié)合應(yīng)用單獨(dú)選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個(gè)1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接:交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637,不需要硬件控制器。
日本日置 IM3523 LCR測試儀
測量模式 |
LCR,連續(xù)測試 |
測量參數(shù) |
Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
測量量程 |
100mΩ~100MΩ,10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) |
可顯示量程 |
Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: |
基本精度 |
Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
測量頻率 |
40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
測量信號電平 |
正常模式 |
輸出阻抗 |
正常模式:100Ω |
顯示 |
單色LCD |
測量時(shí)間 |
2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 |
比較器,分類測量(BIN功能),節(jié)點(diǎn)負(fù)載/補(bǔ)償,記憶功能 |
接口 |
EXT I/O(處理器),USB通信(高速) |
電源 |
100~240V AC,50/60Hz,*大50VA |
尺寸及重量 |
260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 |
電源線×1,操作手冊×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |