Elcometer 456涂層測(cè)厚儀掃描探頭

符合標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試方法通常描述儀器一次點(diǎn)測(cè)過(guò)程中獲取的單一讀數(shù)量和/或已確定表面區(qū)域內(nèi)所需的點(diǎn)測(cè)量。
SSPC PA2要求每次儀器點(diǎn)測(cè)至少三個(gè)讀數(shù)，在10m2（~100ft2）范圍內(nèi)執(zhí)行五次點(diǎn)測(cè)。
Elcometer 456 S型或T型可設(shè)置三個(gè)計(jì)數(shù)平均值及五個(gè)固定數(shù)組大小，以滿足此類要求。 各數(shù)組對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)量區(qū)域。
連接掃描探頭到已選自動(dòng)重復(fù)模式的Elcometer 456 T型后，SSPC PA2（或類似測(cè)試方法）的完成速度可提高40%。

Elcometer 456涂層測(cè)厚儀掃描模式
選擇掃描模式*后，用戶可在整個(gè)表面區(qū)域內(nèi)滑動(dòng)掃描探頭。 探頭離開(kāi)表面時(shí)，該測(cè)厚儀顯示平均涂層厚度值、*高厚度以及*低厚度值。 每組三個(gè)讀數(shù)（平均值、高、低值）可顯示在趨勢(shì)圖上并存儲(chǔ)于內(nèi)存中。
掃描期間，Elcometer 456顯示實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)以及模擬柱狀圖，該圖展示與名義厚度以及任何用戶定義限值相關(guān)的厚度。

掃描模式*存儲(chǔ)整個(gè)測(cè)試區(qū)域內(nèi)的平均、*高、*低讀數(shù)
掃描期間，顯示實(shí)時(shí)讀數(shù)以及模擬條形圖
趨勢(shì)圖顯示每次掃描的平均、*高、*低厚度讀數(shù)。

Elcometer 456涂層測(cè)厚儀自動(dòng)重復(fù)模式
當(dāng)掃描探頭在自動(dòng)重復(fù)模式*下滑過(guò)涂層表面時(shí)，每半秒即可產(chǎn)生一個(gè)讀數(shù)。 單個(gè)讀數(shù)存儲(chǔ)在內(nèi)存中。
以每分鐘超過(guò)140條讀數(shù)的讀取率，自動(dòng)重復(fù)模式可加快檢驗(yàn)大片涂層區(qū)域。

自動(dòng)重復(fù)模式*每分鐘可測(cè)得140多條讀數(shù)并將其存儲(chǔ)于內(nèi)存
單個(gè)讀數(shù)產(chǎn)生時(shí)，儀器更新并顯示統(tǒng)計(jì)值
趨勢(shì)圖顯示單個(gè)讀數(shù)，以便用戶識(shí)別任何明顯趨勢(shì)

掃描探頭具有備用保護(hù)蓋，增加了耐用性

Elcometer 456涂層測(cè)厚儀掃描探頭
Elcometer 456掃描探頭具有經(jīng)久耐用的“卡入式”可換探頭蓋，這一**性的設(shè)計(jì)使用戶可獲取單一讀數(shù)或快速掃描大塊表面區(qū)域，而不會(huì)損壞探頭或涂層。

在Elcometer 456掃描或自動(dòng)重復(fù)模式*下，掃描探頭可使用戶在確保**度的條件下，大大減少檢測(cè)時(shí)間。

掃描探頭使用補(bǔ)償功能+（Elcometer 456**）時(shí)，可確保使用過(guò)程中任何探頭蓋的磨損均納入校準(zhǔn)過(guò)程中。 該儀器甚至可通知用戶何時(shí)更換探頭蓋。

計(jì)數(shù)平均與固定數(shù)組大小可與所有的Elcometer 456探頭一同使用
計(jì)數(shù)平均模式

Elcometer 456 S型和T型均具有計(jì)數(shù)平均模式。 一旦用戶定義了一次點(diǎn)測(cè)過(guò)程中儀器的單個(gè)讀數(shù)量，儀器即可將單個(gè)讀數(shù)平均值存儲(chǔ)于內(nèi)存中。

固定數(shù)組大小

Elcometer 456**型具有的固定數(shù)組大小功能可使用戶定義各數(shù)組中的*大讀數(shù)量。 一旦達(dá)到*大讀數(shù)量，儀器將自動(dòng)開(kāi)啟與之前數(shù)組相關(guān)的新數(shù)組（名稱—1、名稱—2等）。