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泰克2600B系列系統(tǒng)數(shù)字源表源測量單元
日期:2024-11-19 21:27
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摘要:泰克2600B系列系統(tǒng)數(shù)字源表源測量單元它是利用吉時利第三代源測量單元(SMU)技術(shù)建造的。2600B 系列產(chǎn)品包括單通道和雙通道型號,集成了高精密電源、真正電流源、6位半數(shù)字多用表(DMM)、任意波形發(fā)生器、脈沖發(fā)生器以及電子負(fù)載等功能——這些功能都在一個高度集成的儀器機(jī)箱內(nèi)
2600B系列系統(tǒng)數(shù)字源表源測量單元(SMU)儀表是業(yè)界**的電流/電壓源 與測量解決方案,它是利用吉時利第三代源測量單元(SMU)技術(shù)建造的。2600B 系列產(chǎn)品包括單通道和雙通道型號,集成了高精密電源、真正電流源、6位半數(shù)字多用表(DMM)、任意波形發(fā)生器、脈沖發(fā)生器以及電子負(fù)載等功能——這些功能都在一個高度集成的儀器機(jī)箱內(nèi)。這是一個功能強大的解決方案,大大提高了從臺式 I/V特性分析道高度自動化生產(chǎn)測試等各種應(yīng)用中的測試效率。對于臺式應(yīng)用,2600B系列數(shù)字源表內(nèi)置基于Java的測試軟件,支持即插即用I/V測試,可以通過世界各地任何計算機(jī)瀏覽器運行。對于自動化系統(tǒng)應(yīng)用,2600B系列數(shù)字源表的測試腳本處理器(TSP),可以運行儀器內(nèi)存儲的完整測試程序,實現(xiàn)超高的吞吐量。在更大型的多通道應(yīng)用中,吉時利的TSP-Link技術(shù)與TSP協(xié)同工作,實現(xiàn)了高度、SMU-per-pin并行測試。由于2600B系列數(shù)字源表源測量單元(SMU)儀表具有不需要主機(jī)的、完全隔離的通道,因此,可以根據(jù)測試應(yīng)用需求的進(jìn)展,很容易進(jìn)行重新配置和重新部署。
基于Java的即插即用I/V測試軟件
2600B系列數(shù)字源表是內(nèi)置基于Java測試軟件的源測量單元(SMU)儀表, 支持真正的即插即用I/V特性分析,可以通過世界各地任何計算機(jī)瀏覽器運行。這個獨特功能提高了研發(fā)、教育和QA/FA等各種應(yīng)用的測試效率。只需通過附送的 LAN電纜,將2600B數(shù)字源表連接至互聯(lián)網(wǎng),打開瀏覽器,輸入2600B的IP低至,即可開始測試。測試結(jié)果可以下載之電子數(shù)據(jù)表(如Excel),供進(jìn)一步的分析和格式化,或者導(dǎo)入其他文檔或演示文稿。
采用TSP技術(shù),提供****的吞吐量,適合自動測試
對于需要*高自動化和吞吐量級別的測試應(yīng)用來說,2600B數(shù)字源表的TSP技術(shù)提供了優(yōu)良的性能。TSP技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越傳統(tǒng)的測試命令序列……它完全嵌入,然后,在源測量單元(SMU)儀器內(nèi)部執(zhí)行完整的測試程序。這實際上避免了所 有耗時的總線-PC控制器之間的通信,因此,大幅縮短整個測試時間。
TSP技術(shù)將執(zhí)行來自2600B系列數(shù)字源表內(nèi)非易失性存儲的完整測試程序。
通過TSP-Link技術(shù),實現(xiàn)SMU-Per-Pin并行測試
TSP-Link是通道擴(kuò)展總線,支持多 個2600B系列數(shù)字源表互連,成為一個單 一、嚴(yán)格同步的多通道系統(tǒng)。2600B的 TSP-Link技術(shù)與其TSP技術(shù)協(xié)同工作,支 持高速、SMU-per-pin并行測試。與大型 自動測試設(shè)備系統(tǒng)等其他高速解決方案 不同的是,2600B在無需主機(jī)成本或負(fù)擔(dān) 情況下,實現(xiàn)了并行測試性能?;赥SP -Link技術(shù)的系統(tǒng),還支持出眾的靈活性, 可以根據(jù)測試需求的變化,迅速而容易 地對系統(tǒng)進(jìn)行重新配置。
在TSP-Link系統(tǒng)中,所有通道的同步都控制在 500ns以內(nèi)。
2400型軟件仿真
2600B系列數(shù)字源表,與為吉時利2400 型數(shù)字源表源測量單元(SMU)儀表開發(fā)的測試代碼兼容。這使得基于2400型數(shù)字源 表的測試系統(tǒng)更容易地升級至2600B系列, 并使測試速度提高高達(dá)80%。此外,它還提供了從SCPI編程轉(zhuǎn)到吉時利TSP技術(shù)的過渡路徑,實施后,可以進(jìn)一步縮短測試時間。
為了**支持**的測試系統(tǒng),在這個模式下,還完全支持2400型源存儲清單測試序列。
第三代SMU設(shè)計,確保實現(xiàn)更快的測試時間
在早期2600系列儀器成熟的架構(gòu)基礎(chǔ) 上,2600B系列*新的源測量單元(SMU) 儀表設(shè)計從幾個方面提高了測試速度。例 如,早期的設(shè)計采用的是并聯(lián)電流量程調(diào) 節(jié)結(jié)構(gòu),而2600 B系列采用了已申請**(發(fā)明**,**號CN104935322)的串聯(lián)量程調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)具有更快 更平滑的量程變換過程和穩(wěn)定速度更快的 輸出。
SMU-Per-Pin并行測試采用TSP與TSP-Link技術(shù),提高測試吞吐量,并降低測試成本。
2600B系列數(shù)字源表源測量單元 (SMU)儀表設(shè)計支持對各種負(fù)載使用 兩種操作模式。在普通模式下,源測 量單元(SMU)儀表為*大吞吐量提供 高帶寬性能。在高電容模式下,源測 量單元(SMU)儀表使用較慢的帶寬, 為較高電容負(fù)載提供魯棒的性能。
簡化半導(dǎo)體元件測試、驗證與分析
可選配的ACS Basic版本軟件實現(xiàn)了客戶效率的*大化,使客戶可以在開發(fā)、質(zhì)量認(rèn)證或故障分析中,對封裝器件進(jìn)行特性分析。主要特性包括:
內(nèi)容豐富、易于訪問的測試庫
腳本編輯器,實現(xiàn)現(xiàn)有測試的快速定制
數(shù)據(jù)工具,便于迅速比較測試結(jié)果
公式工具,便于分析俘獲的曲線,并提供多種數(shù)據(jù)函數(shù)。
欲了解有關(guān)ACS Basic版本軟件的更多信息,參見ACS Basic版本數(shù)據(jù)表。
強大的軟件工具
除了基于Java的嵌入式即插即用軟 件以及可選配的ACS Basic版本軟件,免 費Test Script Builder軟件工具,可以 幫助用戶創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲TSP測 試腳本。圖1給出2600B系列數(shù)字源表軟 件工具的主要特性。
2600B系列產(chǎn)品3個*新型號的雙通道 臺式數(shù)字源表,提供優(yōu)良的價值和性能
如果想調(diào)試設(shè)計問題,首先必須知道存在問題。每個設(shè)計工程師都要用大量的時間查找電路中的問題,如果沒有合適的調(diào)試工具,這項任務(wù)耗時長、非常麻煩。
為了滿足那些不需要**系統(tǒng)級自 動化能力的應(yīng)用需求,吉時利對2600B系 列數(shù)字源表進(jìn)行了擴(kuò)展,推出3中*新的高性價比臺式型號產(chǎn)品——2604B、2614B和 2634B。這些型號產(chǎn)品性能分別與2602B、 2612B和2636B相似,但它們不包括TSP Link、接觸檢查以及數(shù)字I/O能力。
完整的自動化系統(tǒng)解決方案
吉時利S500綜合測試系統(tǒng)是基于儀 器的、可高度配置的系統(tǒng),適合器件、 晶圓或晶圓盒的半導(dǎo)體特性分析。S500 綜合測試系統(tǒng)基于已被證明的2600系列 系統(tǒng)數(shù)字源表源測量單元(SMU),提供 **的測量特性與系統(tǒng)靈活性,可以根據(jù)需求進(jìn)行升級。其獨特的測量能力, 再加上強大而靈活的自動特性分析套 件(ACS)軟件,為客戶提供**的應(yīng)用 范圍和特性,這是市場上競爭產(chǎn)品所不具備的。
表1 2600B軟件工具
特征/功能 ACS Basic版本 基于Java即插即用軟件 Test Script Builder (TSB)
說明 半導(dǎo)體特性分析軟件, 用于元件測試、驗證 與分析 迅速啟動的、基于Java即插即用軟件工具,支持快速和容易的I-V測試,主要用于臺式和實驗室用戶 為TSP儀器定制的腳本編寫工具
支持的硬件 2400系列、2600B系列、4200-SCS 2600B系列 2600B系列,3700系列
支持的總線 GPIB, LAN/LXI LAN / LXI GPIB, RS-232,LAN/LXI, USB
功能 基于向?qū)У闹庇X圖形用戶接口(GUI),豐富的測試測試庫和曲線跟蹤能力 直線/對數(shù)掃描、脈沖、自定義掃描、單點源測量注意:可使用2600B的新API實現(xiàn)**定時和通道同步 總體靈活的自定義腳本,功能齊全的調(diào)試器
數(shù)據(jù)管理 公式工具,包括多種數(shù)學(xué)函數(shù) .csv文件導(dǎo)出 用戶定義
安裝 選購 不需要。內(nèi)嵌在儀表中 免費下載或CD提供,安裝在PC上
當(dāng)您需要對封裝器件數(shù)據(jù)進(jìn)行快速采集時,通過 ACS Basic版本軟件基于相當(dāng)?shù)挠脩艚缑?,很容?發(fā)現(xiàn)和運行期望的測試,就像常見的 FET曲線跟 蹤測試一樣。
ACS Basic版本軟件具有靈活的軟件體系結(jié)構(gòu),允許為 系統(tǒng)配置多種控制器與測試夾具,并可以根據(jù)應(yīng)用需要, 配置所需的數(shù)字源表數(shù)量。
典型應(yīng)用
各種器件的I-V功能測試和特征分析,包括:
分立和無源元件
– 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬 氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻
– 三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET),等等
簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感 器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器
集成器件——小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI) – 模擬IC
– 射頻集成電路(RFIC)
– 專用集成電路(ASIC)
– 片上系統(tǒng)(SOC)器件
光電器件,例如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面發(fā)射激光器 (VCSEL)、顯示器
圓片級可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、電遷移
基于Java的即插即用I/V測試軟件
2600B系列數(shù)字源表是內(nèi)置基于Java測試軟件的源測量單元(SMU)儀表, 支持真正的即插即用I/V特性分析,可以通過世界各地任何計算機(jī)瀏覽器運行。這個獨特功能提高了研發(fā)、教育和QA/FA等各種應(yīng)用的測試效率。只需通過附送的 LAN電纜,將2600B數(shù)字源表連接至互聯(lián)網(wǎng),打開瀏覽器,輸入2600B的IP低至,即可開始測試。測試結(jié)果可以下載之電子數(shù)據(jù)表(如Excel),供進(jìn)一步的分析和格式化,或者導(dǎo)入其他文檔或演示文稿。
采用TSP技術(shù),提供****的吞吐量,適合自動測試
對于需要*高自動化和吞吐量級別的測試應(yīng)用來說,2600B數(shù)字源表的TSP技術(shù)提供了優(yōu)良的性能。TSP技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越傳統(tǒng)的測試命令序列……它完全嵌入,然后,在源測量單元(SMU)儀器內(nèi)部執(zhí)行完整的測試程序。這實際上避免了所 有耗時的總線-PC控制器之間的通信,因此,大幅縮短整個測試時間。
TSP技術(shù)將執(zhí)行來自2600B系列數(shù)字源表內(nèi)非易失性存儲的完整測試程序。
通過TSP-Link技術(shù),實現(xiàn)SMU-Per-Pin并行測試
TSP-Link是通道擴(kuò)展總線,支持多 個2600B系列數(shù)字源表互連,成為一個單 一、嚴(yán)格同步的多通道系統(tǒng)。2600B的 TSP-Link技術(shù)與其TSP技術(shù)協(xié)同工作,支 持高速、SMU-per-pin并行測試。與大型 自動測試設(shè)備系統(tǒng)等其他高速解決方案 不同的是,2600B在無需主機(jī)成本或負(fù)擔(dān) 情況下,實現(xiàn)了并行測試性能?;赥SP -Link技術(shù)的系統(tǒng),還支持出眾的靈活性, 可以根據(jù)測試需求的變化,迅速而容易 地對系統(tǒng)進(jìn)行重新配置。
在TSP-Link系統(tǒng)中,所有通道的同步都控制在 500ns以內(nèi)。
2400型軟件仿真
2600B系列數(shù)字源表,與為吉時利2400 型數(shù)字源表源測量單元(SMU)儀表開發(fā)的測試代碼兼容。這使得基于2400型數(shù)字源 表的測試系統(tǒng)更容易地升級至2600B系列, 并使測試速度提高高達(dá)80%。此外,它還提供了從SCPI編程轉(zhuǎn)到吉時利TSP技術(shù)的過渡路徑,實施后,可以進(jìn)一步縮短測試時間。
為了**支持**的測試系統(tǒng),在這個模式下,還完全支持2400型源存儲清單測試序列。
第三代SMU設(shè)計,確保實現(xiàn)更快的測試時間
在早期2600系列儀器成熟的架構(gòu)基礎(chǔ) 上,2600B系列*新的源測量單元(SMU) 儀表設(shè)計從幾個方面提高了測試速度。例 如,早期的設(shè)計采用的是并聯(lián)電流量程調(diào) 節(jié)結(jié)構(gòu),而2600 B系列采用了已申請**(發(fā)明**,**號CN104935322)的串聯(lián)量程調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)具有更快 更平滑的量程變換過程和穩(wěn)定速度更快的 輸出。
SMU-Per-Pin并行測試采用TSP與TSP-Link技術(shù),提高測試吞吐量,并降低測試成本。
2600B系列數(shù)字源表源測量單元 (SMU)儀表設(shè)計支持對各種負(fù)載使用 兩種操作模式。在普通模式下,源測 量單元(SMU)儀表為*大吞吐量提供 高帶寬性能。在高電容模式下,源測 量單元(SMU)儀表使用較慢的帶寬, 為較高電容負(fù)載提供魯棒的性能。
簡化半導(dǎo)體元件測試、驗證與分析
可選配的ACS Basic版本軟件實現(xiàn)了客戶效率的*大化,使客戶可以在開發(fā)、質(zhì)量認(rèn)證或故障分析中,對封裝器件進(jìn)行特性分析。主要特性包括:
內(nèi)容豐富、易于訪問的測試庫
腳本編輯器,實現(xiàn)現(xiàn)有測試的快速定制
數(shù)據(jù)工具,便于迅速比較測試結(jié)果
公式工具,便于分析俘獲的曲線,并提供多種數(shù)據(jù)函數(shù)。
欲了解有關(guān)ACS Basic版本軟件的更多信息,參見ACS Basic版本數(shù)據(jù)表。
強大的軟件工具
除了基于Java的嵌入式即插即用軟 件以及可選配的ACS Basic版本軟件,免 費Test Script Builder軟件工具,可以 幫助用戶創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲TSP測 試腳本。圖1給出2600B系列數(shù)字源表軟 件工具的主要特性。
2600B系列產(chǎn)品3個*新型號的雙通道 臺式數(shù)字源表,提供優(yōu)良的價值和性能
如果想調(diào)試設(shè)計問題,首先必須知道存在問題。每個設(shè)計工程師都要用大量的時間查找電路中的問題,如果沒有合適的調(diào)試工具,這項任務(wù)耗時長、非常麻煩。
為了滿足那些不需要**系統(tǒng)級自 動化能力的應(yīng)用需求,吉時利對2600B系 列數(shù)字源表進(jìn)行了擴(kuò)展,推出3中*新的高性價比臺式型號產(chǎn)品——2604B、2614B和 2634B。這些型號產(chǎn)品性能分別與2602B、 2612B和2636B相似,但它們不包括TSP Link、接觸檢查以及數(shù)字I/O能力。
完整的自動化系統(tǒng)解決方案
吉時利S500綜合測試系統(tǒng)是基于儀 器的、可高度配置的系統(tǒng),適合器件、 晶圓或晶圓盒的半導(dǎo)體特性分析。S500 綜合測試系統(tǒng)基于已被證明的2600系列 系統(tǒng)數(shù)字源表源測量單元(SMU),提供 **的測量特性與系統(tǒng)靈活性,可以根據(jù)需求進(jìn)行升級。其獨特的測量能力, 再加上強大而靈活的自動特性分析套 件(ACS)軟件,為客戶提供**的應(yīng)用 范圍和特性,這是市場上競爭產(chǎn)品所不具備的。
表1 2600B軟件工具
特征/功能 ACS Basic版本 基于Java即插即用軟件 Test Script Builder (TSB)
說明 半導(dǎo)體特性分析軟件, 用于元件測試、驗證 與分析 迅速啟動的、基于Java即插即用軟件工具,支持快速和容易的I-V測試,主要用于臺式和實驗室用戶 為TSP儀器定制的腳本編寫工具
支持的硬件 2400系列、2600B系列、4200-SCS 2600B系列 2600B系列,3700系列
支持的總線 GPIB, LAN/LXI LAN / LXI GPIB, RS-232,LAN/LXI, USB
功能 基于向?qū)У闹庇X圖形用戶接口(GUI),豐富的測試測試庫和曲線跟蹤能力 直線/對數(shù)掃描、脈沖、自定義掃描、單點源測量注意:可使用2600B的新API實現(xiàn)**定時和通道同步 總體靈活的自定義腳本,功能齊全的調(diào)試器
數(shù)據(jù)管理 公式工具,包括多種數(shù)學(xué)函數(shù) .csv文件導(dǎo)出 用戶定義
安裝 選購 不需要。內(nèi)嵌在儀表中 免費下載或CD提供,安裝在PC上
當(dāng)您需要對封裝器件數(shù)據(jù)進(jìn)行快速采集時,通過 ACS Basic版本軟件基于相當(dāng)?shù)挠脩艚缑?,很容?發(fā)現(xiàn)和運行期望的測試,就像常見的 FET曲線跟 蹤測試一樣。
ACS Basic版本軟件具有靈活的軟件體系結(jié)構(gòu),允許為 系統(tǒng)配置多種控制器與測試夾具,并可以根據(jù)應(yīng)用需要, 配置所需的數(shù)字源表數(shù)量。
典型應(yīng)用
各種器件的I-V功能測試和特征分析,包括:
分立和無源元件
– 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬 氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻
– 三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET),等等
簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感 器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器
集成器件——小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI) – 模擬IC
– 射頻集成電路(RFIC)
– 專用集成電路(ASIC)
– 片上系統(tǒng)(SOC)器件
光電器件,例如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面發(fā)射激光器 (VCSEL)、顯示器
圓片級可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、電遷移